Сканирующая электронная микроскопия
Рентгеновский микроанализатор JCXA-733 «Superprobe», JEOLЭкспериментальные методики
- Сканирующая электронная микроскопия:
- Рентгеновский микроанализатор JCXA-733 «Superprobe», JEOL
- Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения Zeiss Ultra plus
- Сканирующий электронный микроскоп LEO
- Методики травления и напыления
- Оптическая микроскопия
- Времяпролетная вторично-ионная масс-спектрометрия
- Механические свойства (прочность, твердость, ударная вязкость и др.)
- Измерение удельной поверхности дисперсных и пористых материалов, размера частиц порошков:
- Другие методики измерения:
- Плотности;
- Пористости;
- Коэффициента теплопроводности материалов в широком интервале величин при температуре, близкой к комнатной;
- Газопроницаемости пористых сред в широком интервале величин;
- Тепловыделения высокоэнергетических смесевых композиций (калориметрия).