Сканирующая электронная микроскопия
Рентгеновский микроанализатор JCXA-733 «Superprobe», JEOLЭкспериментальные методики
Время-пролетная масс-спектрометрия
Масспектрометр TOF-SIMS 5 фирмы “IОNTOF” (Germany)
 |
Время-пролетный масс-спектрометр для химического анализа поверхности материалов TOF-SIMS представляет подробную информацию на атомном и молекулярном уровнях о состоянии поверхности образцов, тонких слоев, пленок, а также 3-х мерного анализа образцов. |
 |
Область применения: металлы, керамика, биоматериалы, полупроводники, полимеры, пленки, стекло, и т.д. |
 |
Ионные изображения исследуемого участка поверхности образца керамики BN/SiO2 |
 Щелкните по фото, чтобы посмотреть увеличенное изображение |
Ионные изображения переходной зоны, полученной в режиме СВС между титановой подложкой и соединением на основе TiAl |