ИСМАН - Лаборатория Физического Материаловедения

Экспериментальные методики

Время-пролетная масс-спектрометрия

Масспектрометр TOF-SIMS 5 фирмы ION-TOF Gmbh (Germany)

	Время-пролетный масс-спектрометр для химического анализа поверхности материалов TOF-SIMS представляет подробную информацию на атомном и молекулярном уровнях о состоянии поверхности образцов, тонких слоев, пленок, а также 3-х мерного анализа образцов.
	Область применения: металлы, керамика, биоматериалы, полупроводники, полимеры, пленки, стекло, и т.д.
	Ионные изображения исследуемого участка поверхности образца керамики BN/SiO₂
Щелкните по фото, чтобы посмотреть увеличенное изображение	Ионные изображения переходной зоны между титановой подложкой и соединением на основе TiAl