ИСМАН - Лаборатория Физического Материаловедения по-русски in English
Экспериментальные методики
Рентгеновский микроанализатор JCXA-733 «Superprobe», JEOL, Япония
Electron probe X-Ray Microanalyser JCXA-733 JEOL «Superprobe» INCA Energy SEM 300 Microanalysis System
Система энергодисперсионного микроанализа INCA Energy SEM 300, Oxford Instrument. Разрешение 133 эВ при 5,9 keV (Mn), анализируемые элементы с 5B до 92U. Разрешение во вторичных электронах в режиме SEI 7 нм, увеличение 40 – 360000, ток зонда 10-12 – 10-5 А, ускоряющее напряжение 1 – 50 кВ, анализируемые элементы 5B – 92U.
Возможности прибора:
  • изображение во вторичных электронах (режим SEI);
  • изображение в отражённых электронах (режимы COMPO, TOPO);
  • изображение в характеристическом рентгеновском излучении (режим X-Ray);
  • Качественный и количественный элементный анализ с 5B до 92U с помощью стандартных спектрометров и с помощью энергодисперсионного спектрометра (экспресс-анализ)
    • в точке 5 – 100 мкм2
    • с площади max ≈ 0,5 см2
    • результаты в % весовых и % атомных.
  • Профили распределения элементов (количественно и качественно) вдоль выбранной линии на образце, непрерывно и с заданным шагом.
  • Распределение элементов по площади на выбранном участке образца, качественное и количественное. Получение изображения «Cameo+».
  • Определение количества фаз, их размера и состава.
  • Определение размера частиц порошков, состава порошков, состава отдельных частиц в порошках.
  • Определение толщины покрытий, состава покрытий, профили распределения элементов.
  • Сравнение спектров, полученных с разных участков образца при разных условиях.
  • Запись спектров, изображений карт распределения элементов и линий сканирования в файлы различных форматов.