Институт структурной макрокинетики и проблем материаловедения им. А.Г. Мержанова РАН
Персонал
Направления исследований
Экспериментальные методики
Контакты
Результаты
Публикации
Сканирующая электронная микроскопия
Рентгеновский микроанализатор JCXA-733 «Superprobe», JEOL
Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения Zeiss Ultra plus
Сканирующий электронный микроскоп LEO
Методики травления и напыления
Оптическая микроскопия
Время-пролетная масс-спектрометрия
Измерение механических свойств
Измерение удельной поверхности и размера частиц
Лазерный анализатор размера частиц «Микросайзер-201C»
Прибор СОРБИ
Измерение электросопротивления в широком диапазоне температур
Измерение диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь
Другие методики
Экспериментальные методики
Сканирующий электронный микроскоп LEO 1450 VP, Carl Zeiss, Германия
Укомплектован приставкой ЭДС INCA 300
Сканирующая электронная микроскопия
Рентгеновский микроанализатор JCXA-733 «Superprobe», JEOL
